研究方向：

3D NAND flash可靠性及容错系统

教育背景：

   2023年 华中科技大学网络空间安全学院博士

   2017年 西安电子科技大学伟德国际1946源于英国硕士

         2013年 武汉科技大学电子信息技术学院学士

工作履历：

   2023年至今 伟德国际1946源于英国

学术兼职：

学术成果：

• 参与两项国家自然科学基金项目及一项军备预研项目

• 以第一作者身份著有CCF A类期刊论文2篇CCF C会议论文2篇EI会议论文2篇，共同作者身份发表SCI期刊论文3篇及会议论文1篇

• 已授权专利发明13项，软件著作权3项